馬鞍山量具校驗電話
世通儀器關于高溫微壓力傳感器校準實的研究
在航天領域，常常需要在惡劣環境下實時測量環境的各種相關參量，其中就包括微小壓力測量。由于測試工作處于高溫、高熱流、強電磁干擾、劇烈振動等惡劣的條件下，并且待測壓力微小，此外還要求小型化、低功耗，故而傳統的硅微壓力傳感器已難以滿足測試需求。
波形累積二參數測量僅僅通過波形的直觀表現分析異常信號，需要工程師對于波形特性有一定的了解，ZDL6示波 標配55種自動測量參數，可在采集的同時，將各項指標 量化，通過測量參數列表的實時統計顯示，迅速發現異常數據。并通過歷史統計功能，到異常信號產生瞬間。自動測量觀察異常數據歷史統計異常數據三GO-NOGO條件判斷通過波形累積或者參數測量，需要工程師肉眼觀察分析波形后的數據，而歷史記錄也有數量上限。
相比之下光纖壓力傳感器有著無可比擬的優勢:測量精度高、抗電磁干擾能力良好、絕緣性能好、性能穩定等，因此光纖壓力傳感器*接近測試需求。F-P光纖壓力傳感器更是以極高的測量靈敏度和精度、成熟的微壓測量技術成為*，且只需在探頭結構上輔以耐高溫技術手段，使其能夠適應高溫環境，即能*終滿足測試的要求。
高溫微壓力傳感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高溫材料外殼和支撐架，部件連接采用固體焊接等耐高溫工藝，實現了在無引壓管情況下對800℃高溫介質微小壓力的直接測量，并且通過對性敏感組件等易損件采取專門的限位、加固措施，提高了抗沖擊、振動能力。
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系統基于全制式全覆蓋的測試能力可解決物聯網產業鏈的測試難題，具體包括芯片模組測試、基站綜合測試、產線測試等多個環節。典型測試場景如下：發射機指標測試：UE發射功率UE指的是NB-IOT的終端產品，包括NB-IOT模塊以及使用了這些模塊的各種終端。UE占用帶寬，占用帶寬指的是分配信道之內測量的99%積分平均功率時對應的信號帶寬。NB-IOT下行信號占用帶寬典型測試UE發射ACLR相鄰信道泄漏比，這個測來判定終端產品是否有可能對相鄰(或高或低)信道中的接收機產生干擾。
為了在地面實驗室模擬傳感器的實際測量環境，我們設計了一種適用于高溫微壓力傳感器的儀器校準實驗系統，通過高低溫真空試驗裝置和人機軟件的結合，為儀器校準了一個穩定可靠、安全便捷的實驗。
1、傳感器測量原理
(1) 微壓力測量原理
高溫微壓力傳感器采用的是F-P干涉敏感原理，根據Fabry-Perot共振效應，F-P共振腔反射光的波長變化與兩反射面之間的距離呈函數關系。如圖1所示，為傳感器原理示意圖，感壓反射面及其支撐膜片和靜止反射面就構成了一個完整的F-P共振式壓力敏感結構。根據薄膜性形變原理，壓力敏感膜片在外界壓力的作用下發生形變，從而改變F-P腔腔長，引起干涉譜變化，通過測量干涉光譜，即可得到作用在壓力敏感膜上的壓力變化，從而達到測量壓力的目的。該結構的特點是靈敏度極高，可感受兩個鏡面之間納米級的位移變化，可滿足500 Pa微小壓力的測量需要。
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抖動引起的滿量程信噪比由以下公式得出舉個例子，頻率為1Ghz，抖動為100FS均方根值時，信噪比為64dB。在時域中查看時，x軸方向的編碼邊沿變化會導致y軸誤差，幅度取決于邊沿的上升時間?？讖蕉秳訒贏DC輸出產生誤差，如所示。抖動可能產生于內部的AD外部的采樣時鐘或接口電路。.孔徑抖動和采樣時鐘抖動的影響顯示抖動對信噪比的影響。圖中顯示了5條線，分別代表不同的抖動值。x軸是滿量程模擬輸入頻率，y軸是由抖動引起的信噪比，有別于ADC總信噪比。
(2) 傳感器的儀器校準原理
在傳感器探頭確定的情況下，參數k1,k的值可以通過公式直接計算求得，而溫度敏感系數k2以及補償修正常數C則需要通過校準實驗才能確定。
將被校傳感器與壓力、溫度標準具置于同一載荷環境，通過標準具得到壓力、溫度的標準量，通過解調模塊得到傳感器的輸出值。將標準輸人量與被校傳感器的輸出值繪制成傳感器的校準曲線，再根據校準數據采用*小二乘法確定傳感器的工作直線，用工作直線反映傳感器的輸人和輸出之間的關系，從而確定k2及C的取值。通過校準曲線與工作直線的比較，可以計算得到被校傳感器的靜態基本性能指標。
馬鞍山量具校驗電話容量測量：如下圖測試電路，核心是用一個具有恒流輸出及電壓限制的功率電源作為充電電源。電容兩端的充電電壓波形可以通過一個數字示波器進行記錄。通過示波器的光標，可以很方便地讀出電壓從1.5V上升到2.5V所用的時間，基本的計算公式如下：i=C（V/t）公式變換為：C=i（t/V）。充電電流設定為1A，電壓變化范圍V=2.5V-1.5V-1V那么C=t，在這個示例中，超級電容的容量在數字上與電容從1.5V充電到2.5V的時間相等。
