四川資陽檢測設備檢驗——CNAS認可 ##出具校驗報告

◆  規格說明：

◆  產品說明：

世通儀器檢測服務有限公司占地6畝，實驗室面積達1200平方米。校準源齊全，擁有福祿克、惠普、安捷倫、菊水、新天等大批進口國產 儀器，覆蓋校準檢測范圍廣。

四川資陽檢測設備檢驗——CNAS認可 ##出具校驗報告

繼電器廣泛用于各個領域，如電動汽車、智能電表、電化學等，其性能和可靠性也影響設備系統穩定，繼而繼電器測試驗證標準越來越嚴格，其測試設備綜合要求更高。繼電器是具有隔離功能的自動關元件，廣泛應用于遙控、遙測、通訊、自動控制、機電一體化及電力電子設備中，是 重要的控制元件之一。對于功耗超過1W和工作頻率小于1kHz的的高頻繼電器，在驗證測試過程中，通常需求1k~1kHz交流電。以往高頻交流電一般通過信號發生器與功率放大器組合輸出，即信號發生器產生低能量的高頻交流電，經過功率放大器增益放大，達到符合實際應用的高能量的高頻交流電。

中心設有:力學、長度、衡器、電學、電磁、熱工、幾何量、輕工物性等 校準檢測實驗室。本校準與檢測中心可對以上類別范圍的各國儀器和相關產品進行校準和檢測并出具認可的校準證書或檢測報告。

輕工產品檢測中心擁有各類先進檢測儀器一百余臺。
產品檢測范圍為：對各種類成品鞋、鞋材、s1ty4lq<stjc169皮革、紡織、箱包、車、五金制品、包裝、紙等輕工產品的物理性能進行檢測?？蔀榭蛻粢陨项悇e的產品進行檢測和服務，并出具有效相關產品檢測證書。

四川資陽檢測設備檢驗——CNAS認可 ##出具校驗報告

源測量單元(SMU)是一種可以電流或電壓，并測量電流和電壓的儀器。SMU用來對各種器件和材料進行I-V表征，是為測量非常靈敏的弱電流，同時或掃描DC電壓而設計的。在擁有長電纜或其他高電容測試連接的測試系統中，某些SMU可能不能在輸出上容忍這樣的電容，從而產生有噪聲的讀數和/或振蕩。泰克日前為Keithley4200A-SCS參數分析儀推出兩款源測量單元(SMU)模塊。4201-SMU中等功率SMU和4211-SMU高功率SMU(選配4200-PA前置放大器)可以進行穩定的弱電流測量，包括在高測試連接電容的應用中也非常穩定，使用非常長的三芯同軸電纜來連接器件的應用。

長度計量校準實驗室：量傳歷史長、標準設備全、檢測 能力強的實驗室，本室共建有量塊、平直度、粗糙度、光學儀器、測繪儀器、通用量具、精密測量、三坐標測量機、圓度儀、驗光標準器組等共55項社會公用計量標準，負責本地區的幾何量的量值傳遞，檢測和校準服務，展各項目計量儀器的 、校準、修理。

展的 ／校準項目： 量塊、平晶、干涉儀、測長儀、經緯儀、水準儀、測厚儀、坐標測長機、光學計、投影儀、影像測繪儀、工具顯微鏡、電動輪廓儀、氣動量儀、偏擺儀、測微儀、液塑限測定儀、直角尺 儀、百分表 儀、千分表 儀、量儀測力儀、水平儀 器、水平儀零位 器、測量顯微鏡、讀數顯微鏡、金相顯微鏡、光學平直儀、水平尺、電子水平儀、合象水平儀、框式水平儀、平板、平尺、寬座角尺、口尺、線紋鋼直角尺、角尺、卡尺、千分尺、指示表、內徑表、杠桿表、數顯表、鋼卷尺、鋼直尺、塞尺、工程檢測尺、方箱、環規、螺紋量規、表面粗糙度樣塊、半徑樣板、螺紋樣板、滑板式汽車側滑檢驗臺、輪偏檢測儀、線纜計米器、線速激光測徑。對有關長度、角度、粗糙度、平面度、線紋、端度、形狀與相互位置的量值進行校準。

四川資陽檢測設備檢驗——CNAS認可 ##出具校驗報告

ZLG致遠電子LM4TULoRa模塊到鐵鞋終端當中，配套LoRaNET2網關可快速在車站搭建起一張無線網絡。車站智能鐵鞋組網示意圖ZLG致遠電子的LM4TULoRa模塊+GL1278N網關解決方案憑借著超低功耗、信號覆蓋范圍廣、帶組網協議、支持客戶二次發等優點，完解決了鐵鞋智能化的需求。LM4TU模塊-模塊板載MKL26Z128VFT4MCU，M+內核，支持二次發，可為用戶省一顆MCU；-豐富接口資源：2路16位ADC，2路IIC，2路GPIO，2路PWM，2路UART，1路SPI等等；-內置LoRaNET2組網協議，API接口供用戶二次發調用，方便；-基于AmetaL二次發，豐富的例程以及各傳感器demo，幫助用戶快速完成產品發。

公司主營：內校員培訓，儀器檢測，儀器校準，儀器外校，儀器計量，儀器校正，儀器校驗，工廠儀器校準，工廠儀器檢測，試驗設備檢測，試驗設備計量，實驗室儀器校準，實驗室儀器檢測。 各地均可安排檢測。  

檢測公司能檢范圍特別廣，大項多達八百項，小項幾千項，各類工廠用到的儀器設備，我司都可以校準，校正，并出具 ，認可的有效證書報告，可以通過客戶審廠驗廠以及3C，UL等等認證

四川資陽檢測設備檢驗——CNAS認可 ##出具校驗報告探傷儀器USIP40（GE）；探傷標準按AMS2631DclassA1，標準人工傷φ1.2-9dB檢測，對報處標記位置進行標識。該缺陷截面距離邊部38mm（離棒材幾何中心2mm）。見圖。圖自動探傷截圖低倍解剖。發現距中心處2mm有明顯亮斑點顯示圖低倍解剖觀察距中心2mm處有明顯亮斑點。圖放大200倍高倍發現缺陷部位有明顯亮斑在放大200倍觀察，解剖報處發現亮斑痕跡，亮斑組織和正常組織有明顯差異。

V )(TY)、ZGG40-385(2+0)(TY) /+N < P V/ 1P、2P、、4P /1 < < < /4P < P /+N) N) 5V < < 0V 1P、2P、、4P < 0 < 5V/4P < V 85V/1P < 4P 、2P < 00)385V < < < P/440-2P 8S /1P 60DH3 < C60 0 0 P P P < < 0/8 < < /60kA-F/Pk < V(In:40KA,Imax:80kA) XSF < < / 1P、2P、、4P < P、2P、、4P ) -D P 5V < amp;nbsp;TT20 V < < 0US）/1P V/ 1P、2P、、4P /4 V/4P、、2P、1P /1P、2P、、4P /4P < DH3-A1 < 4+0） 0KA /1P < -A1 < V/1、2、3、4P A/3+1 5V < < < Imax:40KA 4p < < P、、2P、1P < 、2P、1P P < /385V/+N） V /4P、、2P、1P 5 、4P-60 0 5/1P V/1、2、3、4P < 5 3B P-385V 4P 、4P-B100 /1P < < < NPE < PE P/I/4P） SP/H/4P） VSP/I/) SP/I/4P） VSP/S/2P） 5V < /1P/2P//4P V < C GY 0V V/1、2、3、4P /1，2，3，4P < 1P,2P,,4P 、2、3、4P < P < 00S < < P < P,2P,,4P 4P < V/1、2、3、4P 4P < P、2P、、4P V/1P、2P、、4P 0V-4P 40V-4P < /1P < < +N(40KA) V < V 0/4P 5V 5V P-385V A-3 V/1P /4P < /4) B mode < < KA/320V） 0/+N IIY 1P 5V-1P 0V -4P < 4P /4P、、2P、1P P、、2P、1P 5V/4P、、2P、1P /4 5V < 2 3+1 P < MPF < 85 RMP F RMNF < MP F 20/4P/1P < P、1P P、、2P、1P < < 5V 1P /4P、、2P、1P P P < < P..4P < P 385V/4P < < < < 2P、1P 、、2P、1P < V 1P、2P、、4P < < P、2P、、4P < 3 1P 2P 4P -1 /150KA-4P < （三相4+0） < 4P 5 25-D PE /1P < 5V < < < V 3+1)a P +NPE G M < V 10 < +NPE +NPE < D12Y2 < 4V 1P. 2P. . 4P 5 < NF 0kA +NPE < 1P、2P、、4P /1、 2、3、4P P、2P、、4P < 20V(In:100KA,Imax:160KA) 5V < 20V 1P、