測試設備校驗婁底-審廠

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世通儀器關于高溫微壓力傳感器校準實的研究

在航天領域，常常需要在惡劣環境下實時測量環境的各種相關參量，其中就包括微小壓力測量。由于測試工作處于高溫、高熱流、強電磁干擾、劇烈振動等惡劣的條件下，并且待測壓力微小，此外還要求小型化、低功耗，故而傳統的硅微壓力傳感器已難以滿足測試需求。

目前，電子通信發展迅速，對技術、裝置等方面也提出了更高的要求。設備商也在不斷尋求新的方案，尤其是在熱管理方面將面臨更多的挑戰和壓力，需要通過一款靠譜的熱像儀，隨時監控變化，獲取高質量的熱像圖。愛爾蘭科克郡Tyndall 研究所目前正在探尋高性能光電子器件的組建方案。研究所特別研究小組利用熱顯微鏡系統中的FLIR制冷型中波熱成像儀，清晰地呈現了新一代無源光網絡的硅光子光網絡單元(ONU)圖像。
相比之下光纖壓力傳感器有著無可比擬的優勢:測量精度高、抗電磁干擾能力良好、絕緣性能好、性能穩定等，因此光纖壓力傳感器*接近測試需求。F-P光纖壓力傳感器更是以極高的測量靈敏度和精度、成熟的微壓測量技術成為*，且只需在探頭結構上輔以耐高溫技術手段，使其能夠適應高溫環境，即能*終滿足測試的要求。

高溫微壓力傳感器基于F-P干涉敏感原理，使用耐高溫材料外殼和支撐架，部件連接采用固體焊接等耐高溫工藝，實現了在無引壓管情況下對800℃高溫介質微小壓力的直接測量，并且通過對性敏感組件等易損件采取專門的限位、加固措施，提高了抗沖擊、振動能力。
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相位噪聲指標對于當前的射頻微波系統、通信系統、雷達系統等電子系統影響非常明顯，將直接影響系統指標的優劣。該項指標對于系統的研發、設計均具有指導意義。相位噪聲指標的測試手段很多，如何能夠 的測量該指標是射頻微波領域的一項重要任務。隨著當前接收機相位噪聲指標越來越高，相應的測試技術和測試手段也有了很大的進步。同時，與相位噪聲測試相關的其他測試需求也越來越多，如何準確的進行這些指標的測試也愈發重要。
為了在地面實驗室模擬傳感器的實際測量環境，我們設計了一種適用于高溫微壓力傳感器的儀器校準實驗系統，通過高低溫真空試驗裝置和人機軟件的結合，為儀器校準了一個穩定可靠、安全便捷的實驗。

1、傳感器測量原理

(1) 微壓力測量原理

高溫微壓力傳感器采用的是F-P干涉敏感原理，根據Fabry-Perot共振效應，F-P共振腔反射光的波長變化與兩反射面之間的距離呈函數關系。如圖1所示，為傳感器原理示意圖，感壓反射面及其支撐膜片和靜止反射面就構成了一個完整的F-P共振式壓力敏感結構。根據薄膜性形變原理，壓力敏感膜片在外界壓力的作用下發生形變，從而改變F-P腔腔長，引起干涉譜變化，通過測量干涉光譜，即可得到作用在壓力敏感膜上的壓力變化，從而達到測量壓力的目的。該結構的特點是靈敏度極高，可感受兩個鏡面之間納米級的位移變化，可滿足500 Pa微小壓力的測量需要。

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當時在德國，由于使用靜止汞弧變流器而造成了電壓、電流波形的畸變。1945年J.C.Read發表的有關變流器諧波的 是早期有關諧波研究的經典 。到了50年代和60年代，由于高壓直流輸電技術的發展，發表了有關變流器引起電力系統諧波問題的大量 。70年代以來，由于電力電子技術的飛速發展，各種電力電子裝置在電力系統、工業、交通及家庭中的應用日益廣泛，諧波所造成的危害也日趨嚴重。世界各國都對諧波問題予以充分和關注。

(2) 傳感器的儀器校準原理

在傳感器探頭確定的情況下，參數k1,k的值可以通過公式直接計算求得，而溫度敏感系數k2以及補償修正常數C則需要通過校準實驗才能確定。

將被校傳感器與壓力、溫度標準具置于同一載荷環境，通過標準具得到壓力、溫度的標準量，通過解調模塊得到傳感器的輸出值。將標準輸人量與被校傳感器的輸出值繪制成傳感器的校準曲線，再根據校準數據采用*小二乘法確定傳感器的工作直線，用工作直線反映傳感器的輸人和輸出之間的關系，從而確定k2及C的取值。通過校準曲線與工作直線的比較，可以計算得到被校傳感器的靜態基本性能指標。

測試設備校驗婁底-審廠 可控硅檢測方案分析電控系統長時間運行后，電發動機會出現跳閘等故障?；诖?，對可控硅性能好壞進行檢測，對于系統的日常維護、保證正常運轉具有十分重要的意義。通常對電氣設備的檢測設備及方法有萬用表、漏電儀、搖表，另外，還可以利用示波器觀測導通電流以判斷可控硅導通情況。在實際生產中，僅采用萬用表無法判斷可控硅的故障。下面對幾種檢測方法進行對比，以得出可控硅檢測的方法。漏電儀檢測法（耐壓試驗）采用大電流發生器（簡稱升流器）對可控硅K兩極之間進行漏電試驗。