阜陽測試儀器檢測CNAS認證機構

我們選用的PLC為臺達公司的DVP32EH，附加8路AD和DA模塊，使用Delta_ WPLSoft_ V2.33軟件編寫PLC控制程序，程序內容包括PLC對高低溫試驗裝置各個組件例如抽氣泵、閥門、加熱關等的邏輯控制，數據的讀出和寫人以及其他相關功能。

在CAN應用中，有時會出現我們料想不到的問題，此時，為了準確的排查問題，我們需要通過測量CAN總線網絡阻抗來確定是否滿足CAN規范。本文將闡述測量CAN總線網絡阻抗的原理以及具體方法。什么是阻抗？阻抗是指電路中的電子器件對通過它的特定頻率的交流電流的阻礙作用。在數學上用矢量平面上的復數表示，即Z=R+jX，如所示，Z表示阻抗，實部R稱為電阻，虛部X稱為電抗。而電抗為容抗和感抗的總稱，電容在電路中對交流電所起的阻礙作用稱為容抗，電感在電路中對交流電所起的阻礙作用稱為感抗。

3、傳感器的儀器校準實驗

(1) 儀器校準實驗過程

傳感器的校準實驗是為了測試高溫微壓力傳感器在不同溫度環境下，尤其是在高溫環境下能否保持較高的測量精度和重復性，進而根據實驗數據對傳感器進行儀器校準，使得傳感器能夠在溫度變化的環境下保持較高的測量精度和測量重復性。

儀器校準實驗按照校準原理可分為以下環節:①測試傳感器在不同溫度下的壓力敏感性能;②測試傳感器輸出與環境溫度之間的關系，并以此對傳感器進行校準，對溫度的影響作出補償;③壓力、溫度復合加載試驗，測試校準后的傳感器能否滿足實際的應用需求。
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關于數采配置及現場測試應用的部分問題，是工作者在實踐過程中時常會遇到的狀況。為什么記錄了許久但導出文件卻發現沒有數據，為什么采樣數據文件找不到，為什么趨勢圖不顯示，為什么設置了運算公式卻沒顯示結果？本文為你詳細講解。事件數據與顯示數據的區別事件數據將各測量周期采集的數據按照設定的記錄周期進行記錄。雖然記錄了詳細的數據，但是數據量較大。其記錄的數據格式為.TEV，記錄的數值為瞬時值，使用Excel打后的界面如所示。

如果不符合要求則需要重新校準，結果仍不理想則表明傳感器自身存在缺陷，需要進一步優化設計。

由上述可知，傳感器的校準需要大量的實驗，受篇幅所限在此不多贅述，故這里只測試傳感器在不同溫度下的壓力敏感性能，目的是驗證該儀器校準實驗系統是否達到期望的使用要求。

(2) 實驗結果

調節載荷室溫度至30℃，保持溫度恒定的同時逐步增大壓力，記錄反射光波長，反復測量3次;提高載荷室腔內溫度至250℃，重復上述實驗。實驗數據如表1所示。

經過計算，在30℃溫度環境下，傳感器非線性為1.77%，重復性為1.31%，綜合精度為3.07%;而在250℃高溫環境下，傳感器非線性為3.05%，重復性為2.07，綜合精度為5.12%。以上結果表明，溫度升高對實驗傳感器的輸出有較明顯的影響，整體性能也有所降低。此外，通過此次儀器校準實驗，很好地驗證了該校準實驗系統的使用性能，在實驗過程中，載荷室內溫度能長時間穩定在設定值±2℃的范圍內，壓力調節方便可靠，能較快地達到設定氣壓值，并穩定在設定值10.2Pa的范圍內。
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1共模干擾共模干擾是信號對地的電位差，主要由電網串入、地電位差及空間電磁輻射在信號線上感應的共態（同方向）電壓迭加所形成。共模電壓有時較大，特別是采用隔離性能差的配電器供電室，變送器輸出信號的共模電壓普遍較高，有的可高達130V以上。共模電壓通過不對稱電路可轉換成差模電壓，直接影響測控信號，造成元器件損壞（這就是一些系統I/O器件損壞率較高的主要原因），這種共模干擾可為直流、亦可為交流。2差模干擾差模干擾是指作用于信號兩極間的干擾電壓，又叫串模干擾，主要由空間電磁場在信號間耦合感應及由不平衡電路轉換共模干擾所形成的電壓，這種干擾直接疊加在信號上，直接影響測量與控制精度。

綜上所述，該儀器校準實驗系統使此次校準實驗進行順利，很好地滿足了實際需求，達到了設計要求。

4、結束語

通過分析高溫光纖微壓力傳感器的測量結構和儀器校準原理，設計了一套基于高低溫試驗裝置和上位機人機軟件的校準實驗系統，在地面實驗室模擬了傳感器實際測壓環境，實現了傳感器在高溫微小壓力環境下的校準。實驗結果表明，該儀器校準實驗系統能很好地滿足測試需求，是一個穩定可靠、安全便捷的測試，為下一步傳感器的儀器校準工作了保障。

阜陽測試儀器檢測CNAS認證機構由P區引出的電極為陽極，由N區引出的電極為陰極，如下圖所示，溫度對二極管的性能有較大的影響，這是由于半導體材料的特性所致，溫度升高時，二極管的正向壓降將減小，每增加1oC，正向壓降減小約2mV，可以從下圖看出，由半導體理論可以得出，PN結所加端電壓u與流過它的電流i的關系為：其中，Is為反向飽和電流，對于硅材料來說，Is約為10pA;q為電子的電量，q=1.6*10-9C K；T為溫度，kT/q可以用UT來代替，則常溫下，即T=300K時，UT約為26mV。